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自动测试与传统ASIC扫描测试的不同和优势

ASIC设计的平均门数不断增加，这迫使设计团队将20%到50%的开发工作花费在与测试相关的问题上，以达到良好的测试覆盖率。尽管遵循可测试设计(DFT)规则被认为是好做法，但对嵌入式RAM、多时钟域、复位线和嵌入式IP的测试处理将显著影响设计进度。

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