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存储器内置自测试正成为测试嵌入式存储器的标准技术

随着SoC设计向存储器比例大于逻辑部分比例的方向发展，高质量的存储器测试策略显得尤为重要。存储器内置自测试(BIST)技术以合理的面积开销来对单个嵌入式存储器进行彻底的测试，可提高DPM、产品质量及良品率，因而正成为测试嵌入式存储器的标准技术。

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