MBIST:用于嵌入式存储器的可测试设计技术 |
MBIST技术可以自动实现存储器单元或阵列的RTL级内建自测试电路,MBIST的EDA工具支持多种测试算法的自动实现,可针对一个或多个内嵌存储器自动创建BIST逻辑,并完成BIST逻辑与存储器的连接,此外MBIST结构中还可包括故障自动诊断功能,方便了故障定位和开发针对性测试向量。本文将介绍用于嵌入式存储器设计的MBIST技术,并对其电路结构进行讨论。
请登陆网站阅读全文>>
![]() |
最新信息 | ![]() |
|---|---|---|
|
||
| 精品设计专栏赏析 |
|



