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测量并抑制存储器件中的软误差

随着加工工艺尺寸的日益缩小，软误差对存储器件的影响已经从原先的无关紧要演变成为系统设计中需要加以认真考虑的重要事项。本文将讨论产生这些软误差的根源、不同的测量技术以及抵御这些软误差的方法。

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