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将可测试性的SoC设计准时推向市场的方法(二)

采用扫描、TPG、memory BIST以及边界扫描等测试技术有助于实现测试可测试性设计(DFT)过程的完全自动化，从而满足新产品上市时间窗口的要求。

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CSR推出便携式射频测试解决方案，帮助蓝牙设计开发(2008-10-14) u-blox面向电池供电的导航和跟踪设备开发1.8V GPS模块，能耗降低40%(2008-10-14)

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