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本栏目主要讨论针对最新电子设备发展趋势的最新测试测量技术。通过提供大量的技术文章与应用指南，帮助你把握设计潮流，尽占市场先机。

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基于VNA网络分析仪实现长延时器件的测量

技术方案

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•	利用LabVIEW优化多核处理器环境中的自动化测试应用 (2008-05-04) [ 可编程逻辑 ]
•	迈向MIMO系统的测试挑战及解决方案 (2008-05-01) [ 设计测试 ]
•	多端口毫米波测量用变频模块 (2008-05-01) [ 设计测试 ]
•	用FPGA构建PCI Express端点器件的最佳平台 (2008-03-31) [ 可编程逻辑 ]
•	脉冲S参数测量技术的最新进展 (2008-01-16) [ 设计测试 ]
•	测试系统阻抗匹配与开关质量的评价 (2008-01-07) [ 设计测试 ]
•	具有可调触发灵敏度的示波器可有效提高电路检测质量 (2008-01-01) [ 设计测试 ]
•	实战台式数字万用表——RIGOL DM3064试用手记（Ⅱ） (2007-12-25) [ 设计测试 ]
•	确定静电放电和电气快速瞬变的阈值 (2007-12-17) [ 设计测试 ]
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观点与趋势

•	力推“柔性测试”理念，泛华测控实现从系统集成到自主研发 (2008-04-22) [ 设计测试 ]
•	泰克新型中端频谱分析仪实现数字RF测量的实时化 (2008-04-01) [ 设计测试 ]
•	高频测试-现代仪器设计发展的推力 (2008-03-25) [ RF/无线 ]
•	IIC 2008测试测量仪器厂商及创新产品撷英 (2008-03-07) [ 设计测试 ]
•	MSO4000示波器可以简化嵌入式设计调试 (2008-01-25) [ 设计测试 ]
•	EXA信号分析仪让3G和WiMAX测量不再昂贵 (2008-01-01) [ 设计测试 ]
•	大幅加速流程的无线测试新方案盘点 (2007-11-19) [ RF/无线 ]
•	软件定义无线电推动测试仪器的发展 (2007-11-01) [ RF/无线 ]
•	3dB测量带宽大于30MHz和能指定滤波器噪声带宽的射频矢量信号分析仪 (2007-10-01) [ 设计测试 ]
•	高速串行通信系统的测试实现 (2007-09-01) [ 设计测试 ]
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热点新闻

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热点产品

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•	利用LabVIEW优化多核处理器环境中的自动化测试应用
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•	用FPGA构建PCI Express端点器件的最佳平台
•	泰克现可提供完整的包括下一代DDR3在内的DDR/DDR2系列SDRAM测试解决方案
•	特瑞仕开发带ON/OFF控制端看门狗功能的电压检测器
•	泰克推出首款中端实时频谱分析仪，解决数字RF技术设计挑战
•	MSO4000示波器可以简化嵌入式设计调试
•	脉冲S参数测量技术的最新进展
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