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2008年07月02日 JTAG Technologies公司成功突破功能测试与边界扫描之间的障碍
JTAG Technologies公司最近发布了高性能DataBlaster产品线的最新成员-边界扫描控制器,它能帮助电子产品制造商轻松整合边界扫描性能、测试覆盖率与功能验证。
2006年01月01日 利用JTAG边界扫描架构测试SoC互连的信号完整性损耗
互连中的信号完整性损耗对于数千兆赫兹高度复杂的SoC来说是非常关键的问题,因此经常在设计和测试中采用一些特殊的方法来解决这样的问题。本文介绍如何利用片上机制拓展JTAG标准使其包含互连的信号完整性测试,从而利用JTAG边界扫描架构测试高速系统级芯片(SoC)的互连上发生的时延破坏。
2006年01月01日 ASSET的DFT Analyzer工具可实现边界扫描验证
ASSET InterTech公司推出的DFT Analyzer是一种IEEE-1149.1/JTAG边界扫描测试与ISP(在系统编程)工具,该产品将于明年上市,能有效降低制造和测试成本。
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