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2008年07月02日	JTAG Technologies公司成功突破功能测试与边界扫描之间的障碍 JTAG Technologies公司最近发布了高性能DataBlaster产品线的最新成员-边界扫描控制器，它能帮助电子产品制造商轻松整合边界扫描性能、测试覆盖率与功能验证。
2006年01月01日	利用JTAG边界扫描架构测试SoC互连的信号完整性损耗 互连中的信号完整性损耗对于数千兆赫兹高度复杂的SoC来说是非常关键的问题，因此经常在设计和测试中采用一些特殊的方法来解决这样的问题。本文介绍如何利用片上机制拓展JTAG标准使其包含互连的信号完整性测试，从而利用JTAG边界扫描架构测试高速系统级芯片(SoC)的互连上发生的时延破坏。
2006年01月01日	ASSET的DFT Analyzer工具可实现边界扫描验证 ASSET InterTech公司推出的DFT Analyzer是一种IEEE-1149.1/JTAG边界扫描测试与ISP(在系统编程)工具，该产品将于明年上市，能有效降低制造和测试成本。

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