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| 2008-10-28 | JTAG边界扫描的嵌入式计划 |
| 边界扫描的IEEE 1149.1标准由联合行为测试组(JTAG)开发，其开发用于帮助解决由日益增加的较大规模IC和高密度多层印制电路板(PCB)所引发的不可阻挡的测试问题。 | |
| 2008-07-02 | JTAG Technologies公司成功突破功能测试与边界扫描之间的障碍 |
| JTAG Technologies公司最近发布了高性能DataBlaster产品线的最新成员-边界扫描控制器，它能帮助电子产品制造商轻松整合边界扫描性能、测试覆盖率与功能验证。 | |
| 2006-01-01 | ASSET的DFT Analyzer工具可实现边界扫描验证 |
| ASSET InterTech公司推出的DFT Analyzer是一种IEEE-1149.1/JTAG边界扫描测试与ISP(在系统编程)工具，该产品将于明年上市，能有效降低制造和测试成本。 | |
| 2006-01-01 | 利用JTAG边界扫描架构测试SoC互连的信号完整性损耗 |
| 互连中的信号完整性损耗对于数千兆赫兹高度复杂的SoC来说是非常关键的问题，因此经常在设计和测试中采用一些特殊的方法来解决这样的问题。本文介绍如何利用片上机制拓展JTAG标准使其包含互连的信号完整性测试，从而利用JTAG边界扫描架构测试高速系统级芯片(SoC)的互连上发生的时延破坏。 | |
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